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            高通量分析

            HC系統提供您快速自動化的多孔盤掃圖 、 影像擷取 、 後續檔案分析

            HC系統是由倒立全電動顯微鏡 Eclipse Ti2-E 與 分析軟體NIS-Element HC組成。硬體方面結合 Piezo Z載臺、快速的螢光光源切換模組,可快速且全自動化完成多重多孔盤的影像擷取,使用Ti2-E的PFS追焦功能,或是搭配快速的Piezo Z載臺與軟體自動對焦功能,可維持長時間影像不失焦。HC靈活的實驗模組設定,可依客戶不同的實驗需求設計出客製化的實驗排序,快速又方便。

            快速掃圖且靈活的實驗模組設定

            HC 高通量分析軟體建立於Nikon NIS-Elements 軟體之下,提供快速多孔盤掃圖與後續檔案分析。搭配自動對焦功能、與高速濾片切換等功能,在結合客製化軟體模組後,可依實驗需求完成快速多孔、多盤的檔案分析
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            即時性的檔案回顧與分析

            在進行大量多孔盤實驗的同時,軟體可立即性秀出已拍攝的圖檔與後續的檔案分析,此過程不需將全部影像都擷取完成才執行

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            多樣化的檔案分析

            多孔盤拍攝完後,HC可提供後續不同的篩選條件 (例如: 樣品螢光強度 / 細胞數量),快速篩選出有興趣的實驗數值

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